株式会社ニデック【NIDEC】製 斜入射干渉法フラットネステスター FT-17の中古機です。保管場所 中国に１台、日本に１台 合計２台 中古機があります
- 外径φ130mm以下のサンプル測定が可能です。（平坦度測定はφ100mm以下）
- 半導体用ウェーハ（シリコン、化合物、酸化物、ガラス）、ハードディスクドライブ(HDD)用磁気ディスク（アルミ、ガラス）、産業用金属片、任意形状等のサンプル測定が可能です。
- サンプルは粗面から鏡面、透明体や穴あき、異型まで幅広く対応します。
- レーザ光斜入射干渉計による干渉縞を位相シフト法により画像解析することで、種々のサンプルをデジタル計測できます。
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